Рассмотрены возможные алгоритмы использования результатов инструментальных исследований медных проводников с оплавлениями при проведении пожарно-технических экспертиз, установлении причины пожара и места его возникновения.
токовая перегрузка, сверхток, рентгенофазовый анализ, дифрактограмма, оплавление, медный проводник, короткое замыкание
1. Hagemuer W. Die metallographischeUntersuching von Kupferleiternals Method zurUntercheidungzwischenprimaren und sekundarenKurzschlussen // Schriftenreihe der Deutsch
2. Volkspolizei. 1963. № 7-12. Р. 1160-1170.
3. Смелков Г.И. Пожарная безопасность электропроводок. М.: ООО «КАБЕЛЬ», 2009. 328 с.
4. Смелков Г.И., Александров А.А., Пехотиков В.А. Методы определения причастности к пожарам аварийных режимов в электротехнических устройствах. М.: Стройиздат, 1980. 59 с.
5. Смелков Г.И. Научные основы и инженерные методы анализа надежности электропроводок промышленных предприятий при защите объектов от пожаров: дис. … д-ра техн. наук. М. МЭИ, 1983.
6. Чешко И.Д. Экспертиза пожаров (объекты, методы, методики исследования). СПб.: СПб ИПБ МВД России, 1997. 560 с.
7. Маковкин А.В., Кабанов В.И., Струков В.М. Проведение экспертных исследований по установлению причинно-следственных связей аварийных процессов в электросети с возникновением пожара: учеб. пособие. М.: ВНИИ МВД СССР, 1988. 98 с.
8. Чешко И.Д. Плотников В.Г. Анализ экспертных версий возникновения пожара. В 2-х кн. СПб.: ООО «Типография «Береста», 2010. Кн. 1. 708 с.
9. Маковкин А.В., Кабанов В.Н. Изучение состояния электрооборудования при осмотре места пожара: учеб. пособие. М.: ВНИИПО МВД СССР, 1988. 48 с.
10. Забиров А.С. Пожарная опасность коротких замыканий. М.: Стройиздат, 1980. 137 с.
11. ГОСТ Р 52736-2007. Короткие замыкания в электроустановках. Методы расчета электродинамического и термического действия тока короткого замыкания. Осмотр места пожара: метод. пособие. / И.Д. Чешко [и др.]. М.: ВНИИПО, 2004. 503 с.
12. Delplace M., Vos E. Electric Short Circuits Help the Investigator Determine Where the Fire Started // Fire Technology. 1983. V. 19. № 3. P. 185-191.
